任何產(chǎn)品只要使用公共電網(wǎng)或帶有電子電路，都必須滿足 EMC ( 電磁兼容性 ) 要求。而在EMC中， EMI的問題始終是工程師關(guān)心的話題。因為EMI的遠(yuǎn)場測試只能知道產(chǎn)品符不符合EMI的認(rèn)證要求。一旦不符合要求，它無法提供超標(biāo)的輻射源的位置和傳播途徑，這樣工程師就無從下手做整改。
EMI輻射近場測試是一種相對量測試，它可以把被測件的測試結(jié)果與基準(zhǔn)件的測試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測被測件通過一致性測試的可能性，并且通過探頭的檢測能快速精準(zhǔn)的告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于 USB、LAN 之類的通信接口，還是來自殼體的縫隙，或來自連接的電纜乃至電源線，幫助工程師查找和定位輻射源位置和傳播路徑，及評估整改后的效果。
因此，近日對外開放的「世強&Keysight」開放實驗室也針對EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量提供了N9000B+N6141C+近場探頭，幫助工程師對你設(shè)計執(zhí)行預(yù)兼容測量和診斷評測。
據(jù)悉，該實驗室可提供IoT物聯(lián)網(wǎng)射頻性能測試方案、EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量方案、低功耗測量方案、無線充電傳輸效率測量方案、材料+LCR參數(shù)測量方案五大方案幫企業(yè)解決測試場地、資金、技術(shù)支持的等問題，能有效縮短研發(fā)時間。
并且該實驗室對所有企業(yè)免費開放，只要事先在世強元件電商（https://www.sekorm.com/）進(jìn)行預(yù)約等級，即可使用世強&Keysight開放實驗室進(jìn)行測試測量。
其中EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量方案具體包括：
●輕松識別超出標(biāo)準(zhǔn)極限值的器件發(fā)射
頻率掃描
●使用掃描表設(shè)置頻率范圍
使用△至極限值的傳導(dǎo)發(fā)射與掃描表
●調(diào)諧和偵聽頻率掃描表中的信號
使用儀表進(jìn)行的輻射掃描
●使用條形圖查看隨時間變化的信號
條形圖
●生成測試結(jié)果的報告
報告生成
●時域掃描加速測試
分辨率帶寬與FFT采集帶寬的對比
●自動單擊測量
簡化和自動執(zhí)行數(shù)據(jù)收集、分析和報告生成，更高效地完成單擊測量
●利用最小的檢測頻譜找到最大的發(fā)射
檢測頻譜發(fā)現(xiàn)峰值發(fā)射的頻率
●準(zhǔn)備執(zhí)行APD測量
利用APD功能為未來應(yīng)用做好準(zhǔn)備
